功能特點

　　1.快速掃描

　　日立 EA6000VX 能量色散型X射線熒光分析儀憑借最大150萬CPS的高計數(shù)率檢測器完成高靈敏度的測量，以及借助最大250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動樣品臺，實現(xiàn)快速掃描測量。對于范圍為100 mm×100 mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測出端子部分的鉛并確定其位置。

　　2.連續(xù)多點測量

　　X射線熒光分析儀最多可指定500個測量位置進行連續(xù)多點測量。由于采用自動測量方式，因此在測量大量樣品是，也可發(fā)揮高效率。

　　3.高精密重合

　　通過Telecentric Lens 系統(tǒng)和高速?高精度XY平臺，將元素掃描像和光學(xué)成像進行重合對微小部品的中心部分的目標(biāo)元素也能進行簡單觀察。最大250 mm×200 mm上方觀察，并且能夠?qū)崿F(xiàn)廣域位置最小誤差為100 μm以內(nèi)的精確定位。

　　4.微小部位測量

　　在FT系列中被公認的測量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說極薄的鍍金等膜厚測量，即便是在進行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測量的同時也可進行膜厚測量。比如也可進行無鉛焊錫鍍層及引線框架上Sn鍍層，無電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測量。

　　5.環(huán)境中限制物的測量

　　RoHS等限制物的高靈敏度測量，短時間內(nèi)測出樹脂、金屬等中含有的微量環(huán)境限制物。對復(fù)合樣品也可專注到特定部位進行測量

　　6.輕元素測量

　　通過安裝充氦選購項，可以分析鈉開始的輕元素。測量中能夠獨立運轉(zhuǎn)的氦氣系統(tǒng)。將使用成本最大化降低。

　　7.透視掃描機能

　　筆記本、手機等不能透過外包裝看到內(nèi)部構(gòu)造的產(chǎn)品，無需拆解就可得到不僅僅是基板上的Pb，甚至其他各種元素的掃描圖。通過比較X射線照射后得到的元素掃描圖像，可以了解關(guān)于產(chǎn)品內(nèi)部部件構(gòu)造的各種情報。

　　8.異物檢測EA6000VX

　　EA6000VX通過快速掃描功能可以在幾分中內(nèi)檢測出寬廣范圍（最大250 mm×200 mm）內(nèi)含有的幾十 μm的微小金屬異物，并查明其具體位置。也可檢測出樹脂等有機物內(nèi)部還有的微小、微量金屬異物。

　　9.絕對安全、安心的操作性

　　日立能量色散型X射線熒光分析儀可以自動接近、防止沖撞功能 操作臺上樣品一旦設(shè)定好啟動后，自動測量出樣品的最大高度，移動到最適合的測量高度。即便是復(fù)雜形狀的樣品，操作員也可輕松測量。另外，即便通過操作指南調(diào)整了測量高度，由于安裝了防止沖撞傳感器，因此不會使樣品受到損傷。